答疑解惑:关于防雷元件测试仪

在测压敏电阻漏流时，显示漏流值为什么渐渐上升至稳定，短时间内测同一个元器件，测出的数据为什么不一致？

 被测压敏电阻在测试时，由于元器件内部温度影响，测漏流时，大电流的冲击，压敏电阻内部温度变化比较大，漏电流随着温度的变化而变化，zui后趋于稳定。气体放电管内部由于是隋性气体组成。在电流的冲击下，短时间内难以恢复原来状态必须经过一段时间恢复，才能获得准确结果，保证重复测试精度。


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